1. Wang, J.Y., Zalar, A., Zhao, Y.H., Mittemeijer, E.J., Determination of the interdiffusion coefficient for Si/Al multilayers by Auger electron spectroscopical sputter depth profiling. Thin Solid Films, 2003. 433(1): 92-96.

研究成果

版权所有 © 2024 河海大学材料学院微纳米结构材料-赵永好教授团队 ALL RIGHTS RESERVED 后台管理技术支持：梦蕾科技
地址：江苏省常州市金坛区河海大道1915号邮编：213022 电话：0519-85195360 Email:mse@hhu.edu.cn