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2. Zalar, A., Wang, J.Y., Zhao, Y.H., Mittemeijer, E.J., Panjan, P., AES depth profiling of thermally treated Al/Si thin-film structures. Vacuum, 2003. 71(1): 11-17.

时间: 2024-11-14来源: 河海大学赵永好课题组作者: 编辑: 审核: 阅读: 11