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4. Zhao, Y.H.*, Wang, J.Y., Mittemeijer, E.J. Stress, microstructure and structural evolution in annealed Si/Al and Al/Si bilayers. 2002. Slovakia: Institute of Physics

时间: 2024-11-14来源: 河海大学赵永好课题组作者: 编辑: 审核: 阅读: 11